芯片接口库 I/O Library和ESD 电路的研发设计应用.

di 1 章　I/O Library 介绍 ……………………………………………………………… 1
1.1　I/O Library 的特征 …………………………………………………………… 1
1.2　I/O Library 的设计流程 ……………………………………………………… 4
1.3　研究工艺的特点 ……………………………………………………………… 5
1.4　设计测试芯片 ………………………………………………………………… 6
1.5　ESD 测试模块 ………………………………………………………………… 7
di 2 章　ESD——I/O Library 的*一道墙 ………………………………………… 11
2.1　ESD 现象 ……………………………………………………………………… 11
2.2　半导体芯片中的ESD 失败现象 ……………………………………………… 12
2.3　电路可靠性——ESD 测试模型 ……………………………………………… 16
2.4　ESD 标准测试模型的测试组合 ……………………………………………… 25
2.5　ESD 标准测试模型的测试误差 ……………………………………………… 28
2.6　输入/ 输出管脚ESD 器件的设计和布局 …………………………………… 29
参考文献……………………………………………………………………………… 75
di3 章　闩锁和保护环 ………………………………………………………………… 77
3.1　闩锁的机理 …………………………………………………………………… 77
3.2　防止闩锁的方法 ……………………………………………………………… 79
3.3　Latch-up 的测试方法 ………………………………………………………… 88
参考文献……………………………………………………………………………… 94
di4 章　I/O 电路设计 ………………………………………………………………… 95
4.1　通用型I/O 数据规范和设计 ………………………………………………… 95
4.2　传输线现象 …………………………………………………………………… 96
4.3　GPIO 的输出模块 ……………………………………………………………… 100
4.4　GPIO 的输入模块 ……………………………………………………………… 114
4.5　模拟输入信号 ………………………………………………………………… 117
目　录
芯片接口库I/O Library 和ESD 电路的研发设计应用
4.6　混合电压输入/ 输出电路 …………………………………………………… 120
4.7　高压容忍电路中的输入/ 输出电路 ………………………………………… 125
4.8　输出电路的布局 ……………………………………………………………… 128
4.9　I/O 的电源线分布 ……………………………………………………………… 132
(咨询特价)　Bond PAD 的位置和布局 …………………………………………………… 134
(咨询特价)　内核面积决定化和PAD 面积决定化 ……………………………………… 136
参考文献……………………………………………………………………………… 139
di5 章　高速I/O 电路 ………………………………………………………………… 141
5.1　电路补偿 ……………………………………………………………………… 141
5.2　DDR …………………………………………………………………………… 146
5.3　LVDS …………………………………………………………………………… 150
参考文献……………………………………………………………………………… 154
di6 章　I/O Library 的模型…………………………………………………………… 155
6.1　综合模型 ……………………………………………………………………… 155
6.2　行为模型 ……………………………………………………………………… 169
6.3　IBIS 模型 ……………………………………………………………………… 171
参考文献……………………………………………………………………………… 181
结束语 …………………………………………………………………………………… 183